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IEC发布有关OLED图像残影和寿命测量方法的新标准

信息来源:广东省WTO/TBT通报咨询研究中心    发布日期:2019-08-21    阅读:560次

  2019年8月2日,国际电工委员会(IEC)发布标准IEC 62341-5-3:2019《有机发光二极管(OLED)显示器.第5-3部分 图像残影和寿命测量方法》的预发布版本。

  IEC 62341-5-3:2019(E)规定了确定OLED显示面板和模块的图像残影和寿命的标准测量方法,但提供给终端客户使用的最终显示产品除外,如电视机、显示器和手机。寿命测量方法主要适用于模块。

  本版本包括下列与前一版本相关的重大技术变更:

  a)寿命测量工具仅适用于模块;

  b)修改显示屏或电视设备的测量方法;

  c)将数字标牌显示作为OLED设备的一个示例;

  d)增加图像残影的高动态范围图像(HDR)测量方法;

  e)增加图像残影的CIEDE 2000分析方法;

  f)修改评估图像残影的信息方法。

 

  本新闻由广东省WTO/TBT通报咨询研究中心摘录/编辑/整理并翻译,转载请注明来源。

  更多详情请见:https://webstore.iec.ch/publication/65592



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